X線頭影測量主要是測量X線頭顱定位照像所得的影像，對牙頜、顱面各標志點描繪出一定的線角進行測量分析，從而了解牙頜、顱面軟硬組織的結構，使對牙頜、顱面的檢查、診斷由表面形態(tài)深入到內(nèi)部的骨骼結構中去。

主要應用：1.研究顱面生長發(fā)育；2.牙頜、顱面畸形的診斷分析；3.確定錯畸形的矯治設計；4.研究矯治過程中及矯治后的牙頜、顱面形態(tài)結構變化；5.外科正畸的診斷和矯治設計；6.下頜功能分析。